零PPT

当前位置： 首页 > 标准规范 > GB/T 34900-2017 微机电系统（MEMS）技术基于光学干涉的MEMS微结构残余应变测量方法

GB/T 34900-2017 微机电系统（MEMS）技术基于光学干涉的MEMS微结构残余应变测量方法

在线预览下载文档

文件大小 : 922.34 KB

文档格式 : PDF电子版

文档分类 : 国家标准

更新时间 : 2023-12-27 14:59:44


上一篇：GB/T 35750-2017 烟花爆竹炭粉
下一篇：GB/T 34811-2017 作物节水灌溉气象等级小麦

推荐下载

查看更多推荐

  • NB/T 10560-2021 风力发电机组技术监督规程
  • QX/T 170-2012 台风灾害影响评估技术规范
  • NB/T 10596-2021 风电场智能巡检技术导则
  • YD/T 2559-2013 基于祖冲之算法的LTE终端和网络设备安全测试方法
  • DL/T 892-2021 电站汽轮机技术条件
  • YY/T 0290.6-2021 眼科光学 人工晶状体 第6部分：有效期和运输稳定性
  • GY/T 361-2022 电视播出节目信息即时传输技术规范
  • DZ/T 0266-2014 矿产资源开发遥感监测技术规范
  • SB/T 10860-2012 二手叉车流通技术要求
  • TB 10760-2021 高速铁路工程静态验收技术规范